電子元器件做可靠性試驗需要做哪些項目？

電子元器件做可靠性試驗需要做哪些項目，以及需要哪些試驗設(shè)備，劍喬儀器小編為您講解下！

機(jī)械完整性試驗項目需要用到的檢測設(shè)備（沖擊試驗臺、振動試驗臺，冷熱沖擊試驗箱，高低溫濕熱交變試驗箱，高溫老化試驗箱等）

1、機(jī)械沖擊：確定光電子元器件是否能適用在需經(jīng)受中等嚴(yán)酷程度沖擊的電子設(shè)備中。沖擊可能是裝卸、運輸或現(xiàn)場使用過程中突然受力或劇烈振動所產(chǎn)生的。

2、變頻振動：確定在規(guī)范頻率范圍內(nèi)振動對光電子器件各部件的影響。

3、熱沖擊：確定光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產(chǎn)生的作用。

4、插拔耐久性：確定光電子器件光纖連接器的插入和拔出，光功率、損耗和反射等參數(shù)是否滿足重復(fù)性要求。

5、存儲試驗：確定光電子器件能否經(jīng)受高溫和低溫下運輸和儲存。

6、溫度循環(huán)：確定光電子器件承受極高溫度和極低溫度的能力，以及極高溫度和極低溫度交替變化對光電子器件的影響。

7、恒定濕熱：確定密封和非密封光電子器件能否同時承受規(guī)定的溫度和濕度。

8、高溫壽命：確定光電子器件高溫加速老化失效機(jī)理和工作壽命。

加速老化試驗需要用到的檢測設(shè)備（高低溫濕熱交變試驗箱，高溫老化試驗箱等）

在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅(qū)動電流進(jìn)行加速老化。依據(jù)試驗的結(jié)果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，并可對光電子器件工作條件進(jìn)行調(diào)整和對可靠性進(jìn)行計算。

1、高溫加速老化：加速老化過程中的最基本環(huán)境應(yīng)力式高溫。在實驗過程中，應(yīng)定期監(jiān)測選定的參數(shù)，直到退化超過壽命終止為止。

2、恒溫試驗：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應(yīng)規(guī)定恒溫試驗樣品數(shù)量和允許失效數(shù)。

3、變溫試驗：變化溫度的高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度（例如，60℃、85℃和100℃）

4、溫度循環(huán)：除了作為環(huán)境應(yīng)力試驗需要對光電子器件進(jìn)行溫度循環(huán)外，溫度循環(huán)還可以對管電子器件進(jìn)行加速老化。溫度循環(huán)的加速老化目的一般不是為了引起特定的性能參數(shù)的退化，而是為了提供封裝在組件里的光路長期機(jī)械穩(wěn)定性的附加說明。

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